菲希尔XUL220、X射线测厚仪信息

XUL220菲希尔X射线测厚仪属于能量色散型 X 射线荧光（EDXRF）测量仪器，通过 X 射线激发样品表面，分析镀层厚度及材料成分。其核心优势包括：

菲希尔X射线测厚仪多场景适用性：

测量单 / 双 / 三层镀层系统（如金属基材上的锌、镍、铬等镀层）。

分析双元 / 三元合金镀层成分（如锌镍合金、铜锡合金）及电镀液中金属离子含量。

支持珠宝、贵金属中金含量的快速无损检测（需搭配 WinFTM® 软件及校准标准块）。

高效测量设计：

自下而上测量方向：X 射线管和探测器位于测量台下方，被测样品直接放置于透明窗口，无需调整距离即可自动定位，尤其适合螺丝、螺母、连接器等几何复杂的小工件。

手动 XY 工作台：支持 ±50mm 范围内的精细移动，确保微小区域（如 PCB 焊点）的精准测量。

智能化操作：

搭载WinFTM® 软件，提供中、英、德等多语言界面，支持统计分析（如 SPC 图、概率图）、报告生成及数据导出。

视频辅助系统：高分辨率摄像头实时显示测量区域，叠加校准刻度和十字线，辅助定位并减少人为误差。